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本儀器專門針對貴金屬測試，可測試環(huán)形樣品內壁及普通平面測試，具有以下特點：體積小巧，外型莊重大方，手動升降平臺滿足不同大小樣品的測試，樣品固定方便快捷，可方便更換準直器，準直器直徑為1.5mm，可測試較小區(qū)域，下照式，大窗口正比計數(shù)盒保證計數(shù)率滿足分析需要，寬闊樣品腔可滿足較大樣品的測試，攝像頭激光定位實現(xiàn)可視化定位，良好的射線屏蔽確保操作人員。  

EDX860D X熒光光譜儀報價 

EDX860D X熒光光譜儀性能特點

1.大功率光管；

2. 窗口面積正比計數(shù)盒；

3. 外型小巧，莊重大方；

4. 寬闊樣品腔，方便操作及測試較大樣品；

5. 手動升降平臺確保測試不同大小環(huán)狀樣品；

7．小準直器，利于測試樣品小區(qū)域；

8. 攝像頭與激光定位，可視地準確定位到被測點，測試時激光點自動關閉，利于拍攝清晰照片；

9. 良好的射線屏蔽確保操作人員的安全。

EDX860D X熒光光譜儀技術指標

分析含量一般為ppm到99.9％；

任意多個可選擇的分析和識別模型；

相互的基體效應校正模型；

多變量非線性回歸程序；

電源：交流220V±5V；

測量時間：60-200S

管壓：5-50KV

管流：50-1000μA

溫度適應范圍：15℃-30℃

標準配置

正比計數(shù)盒；

50W X光管；

高壓電源 50kV@1mA；

攝像頭激光定位裝置；

高靈敏度信號檢測電子電路；

手動升降平臺；

樣品夾；

橡皮泥；

準直器直徑為1.5 mm

外觀尺寸： 430×380×355 mm

樣品腔尺寸：306×260×78mm

重量：34Kg

EDX860D X熒光光譜儀應用領域

飾加工廠

金銀珠寶飾店

貴金屬冶煉廠

質量檢驗部門

分析測試中心

典當行

EDX860D X熒光光譜儀報價 

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