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天瑞儀器800A鍍層測厚儀

       詳細配置信息：
 

硬件：主機壹臺，含下列主要部件：  
 

(1)   X光管                    (2) Si-PIN電制冷半導體探測器

(3) 信號檢測電子電路     (4) 二維移動平臺 

(5) 高清晰攝像頭            (6) 高低壓電源

(7)  開放式樣品腔            (8）雙激光定位裝置

(9)  鉛玻璃屏蔽罩
 

軟件：天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0
 

技術指標：
 

1.1 分析元素范圍：K-U

1.2 同時可分析多達5層鍍層

1.3 分析厚度檢出限zui高達0.005μm

1.4 定位精度：0.1mm

1.5 測量時間：5s-300s

1.6 計數(shù)率：0-8000cps

1.7 Z軸升降范圍：0-140mm

1.8 X/Y平臺可移動行程：50mm(W)×50mm(D)
 

工作環(huán)境要求：
 

2.1 環(huán)境溫度要求：15℃-30℃

2.2 環(huán)境相對濕度：<70%

2.3 工作電源：交流220±5V

2.4 周圍不能有強電磁干擾。

        性能特點：

        滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求